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| 低温试验箱标准简述 |
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| 时间：2013/4/28 7:50:15 |
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由中华人民共和国国家标准出版的电工电子产物基本环境试验规程试验A：低温试验方法（标准号：GB/T2423.1）,此低温试验箱标准等效采用国际标准IEC 68-2-1《基本环境试验规程 试验A：寒冷》及其第一次补充文件IEC68-2-1A。
标准规定了电工电子产物基本环境试验规程试验础：低温试验方法，适用于非散热和散热的电工电子产物（包括元件、设备及其他产物）的低温试验。
低温试验箱可模拟各个不同阶段的寒冷工况，广泛适用于各行各业的产物出厂检测及市场投放决择，但本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产物在低温环境条件下贮存和使用的适应性，而不能用来评价试验样品在温度变化期间的耐抗性和工作能力，这时应当采用GB2423.22《电工电子产物基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法》即我们在业内常说的温速快速变化试验箱（温度快速变化试验箱根据试验要求又分为线性和非线性），其它行业对此标准中制定的试验检测项目仅以参考为主，本标准规定的试验方法通常用在条件试验期间能达到温度稳定的试验样品，试验时，是将具有室温的试验样品投入试验，当试验样品实际上是和某种特定的安装架一起使用时，则试验时应应使用这些安装架（我们业内称为“样品架”，现低温试验箱系列产物标准的样品架都是窜孔隔板式的，根据用户被测样品的大小可以另外定制）。 |
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